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钨灯丝扫描电镜(SEM)送样要求
作者:管理员  发布时间:2012-09-17    阅读次数:589

厂商:德国蔡司

主要技术指标:

1.图像辨率: SE3 nm 在高真空模式;BSE: 4nm在低真空模式;

2.放大倍数:最小放大倍数: 5×,最大放大倍数: 1,000,000×;   

3.样品台移动:X=125 mmY=125 mmZ=50 mm;倾斜0 - 90°。

 

仪器型号:EVO 18

 

主要配置

 

1.钨灯丝扫描电子显微镜基本单元

 

2.扫描透射附件(STEM

 

3PP2000T冷冻传送系统

 

应用领域

 

可以高分辨率观察微米、纳米级样品的表面形貌像。可广泛应用于生物学、医学、化学、物理学、地质学,金属、半导体材料、高分子材料、陶瓷、纳米材料等领域的科研和教学。

送样要求

    1.欲测试的样品必须符合SEM测试要求,样品要求尽可能要小且干燥无可挥发成分、无磁性,多孔类与易潮解类样品请提前真空干燥处理;

    2.样品必须牢固粘贴于样品台上,并吹扫去除未粘贴和不牢固样品;对不导电块体类样品通常需要喷涂(AuC)测试;

    3. 原则上禁止做在强电子束流下易分解的样品;

    4.试样如果含有水或者油等易挥发物质必须给出注明;

    5.若试样易燃、易爆、有毒,必须提示,以便采取相应的处理措施。

联系人: 张行泉

电话:08166089510

 

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