场发射扫描电子显微镜系统(FSEM)送样要求-西南科技大学国家大学科技园

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场发射扫描电子显微镜系统(FSEM)送样要求
作者:管理员  发布时间:2014-09-10    阅读次数:1730

厂商:德国蔡司仪器公司

主要技术指标:

1.分辨率:0.8 nm at 15 kV1.6 nm at 1 kV4.0nm@0.1 kV。放大倍数:12 - 900,000X (SE) 100 - 900,000X (BSE)

2.样品移动最大范围指标:不小于120mm(XY方向)50mm(Z方向)-470°(倾斜)360°(旋转)

3.能谱分辨率优于127eV (MnKα处,计数率为20000cps);谱峰漂移<1eV(MnKα处)

4.电子背散射空间分辨率0.1微米,角分辨率0.5度。

 

仪器型号:Ultra 55

 

主要配置

 

1.镜筒内置式In-Lens二次电子探测器和EsB探测器,样品室内AsB探测器和ET探测器

2Oxford IE450X-Max80能谱仪(EDS

 

3IW700 波谱仪(WDS

4HKL Nordlys S 电子背散射衍射仪(EBSD

 

5Emitech SC7620喷金仪;CA7625喷碳仪

6Buehler Vibromet 2 振动抛光机

 

应用领域

 

广泛应用于纳米材料、金属材料、复合材料、水泥和混凝土等研究及生物医学领域。

送样要求

    1.测试样品要尽可能小且干燥无可挥发成分、无磁性,如有必须注明。多孔类与易潮解类样品请提前真空干燥处理;

    2.请注明样品的导电性,对不导电样品通常需要喷涂(AuC)处理,测试能谱的样品如不导电,则需注明喷AuC

    3.禁止做在强电子束流下易分解、反应的样品;

    4.若试样易燃、易爆、有毒,必须提示,以便采取相应的处理措施。

联系人: 马国华

电话:08166089510

 

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