200kV场发射透射电子显微分析系统送样要求-西南科技大学国家大学科技园

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200kV场发射透射电子显微分析系统送样要求
作者:管理员  发布时间:2014-03-07    阅读次数:530

厂商:Carl Zeiss SMT Pte Ltd(德国蔡司)

主要技术指标:

1.点分辨率:≤0.24nm;信息分辨率:≤0.14nm;能量分辨率: 0.7eV

2.最小放大倍数: 80×

最大放大倍数: 1,000,000×;

3.样品移动 X:≥2mmY: 2mmZ:≥±0.2mm (最高可以达到±0.4mm)

4.最大倾斜角:α= ±30°;β=±30°。

 

仪器型号:Libra 200FE

 

主要配置

 

1.场发射透射电子显微镜基本单元

2.镜筒内置OMEGA 型能量过滤器

 

3.单倾样品杆、铍双倾样品杆

4.扫描透射附件(STEM

 

5.电子能量损失谱仪(EELS

6Oxford IETEM100能谱仪(EDS

 

应用领域

 

1.研究材料的微观形貌、晶体结构、微区成分;材料界面、晶体缺陷、晶格像、结构像及纳米结构材料。

2.观察动、植物组织,细胞内部的超微结构以及微生物和生物大分子的形貌。

送样要求

1.样品最好具有代表性;

2.样品不具有强磁性,能够经受电子束辐照;

3.粉末样品的粒径最好在100nm以下;

4.块状样品必须经过透射电镜样品制备流程,制备成Ф3mm的圆片,并有薄区,本实验室可以制备电镜样品。

联系人: 马拥军

电话:08166089510

 

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