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扫描探针显微镜送样要求
作者:管理员  发布时间:2007-03-06    阅读次数:452

扫描探针显微镜适用范围

本方法适用于:

l 材料表面形貌、相组成研究 ,半导体掺杂、电容及芯片电路研究

l 纳米刻蚀、加工与纳米器件研究,材料表面与薄膜电性能研究

l 实时生物表面活性、生物结构与功能的关系研究

l 金属、聚合物、半导体、生物、胶体、配位化学物、陶瓷、

l 无机化合物、有机物等表面原子、分子形貌及电子结构研究

l 复合材料界面研究

l 材料表面与薄膜硬度测定 ,材料表面与薄膜微载荷压痕、划痕研究

l 材料摩擦力、磁力等力学性能研究,材料表面与薄膜粗糙度研究

l 材料表面各种缺陷、污染情况研究

送样要求

块体样品:来样标明样品名称、主要成分、待测项目

样品大小:长,宽1cm×1cm以下

样品要求:

样品厚度不超过1cm

样品表面清洗干净,无太多污染

样品表面比较平整

固体粉末:来样标明名称、主要成分、粒子的大致尺寸

样品要求:

样品量:0.52g

样品前处理:将粉末按一定浓度用超声波在其非溶剂中分散均匀,之后取一滴滴在新剥离的云母片上,加热或自然干燥后测试

 

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